Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. АтовмянМатематика. Прикладная информатика. Научные статьи
- Название
- Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
- Автор:
- И. О. Атовмян
- Серия:
- Прикладная информатика. Научные статьи
- Жанр:
- Математика
- Год выпуска:
- 2014
- isbn:
- Аннотация:
- В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.